[发明专利]一种磁性元件损耗测量方法有效
| 申请号： | 201310144862.7 | 申请日： | 2013-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN103226187A | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 陈为;杨向东;叶建盈;汪晶慧 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R27/26 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种磁性元件损耗测量方法，采用一功率变换器作为测试电路，在工况下测量所述测试电路的输入功率，然后选择所述测试电路中磁性元件的两端点并将被测磁性元件并联在所述两端点，之后测量并联被测磁性元件后所述测试电路的输入功率，并联被测磁性元件前后所述测试电路的输入功率之差即为所述被测磁性元件在工况下的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度，而且测量方便简单，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁性 元件 损耗 测量方法 | ||
【主权项】：
一种磁性元件损耗测量方法，其特征在于：采用一功率变换器作为测试电路，在工况下测量所述测试电路的输入功率，然后选择所述测试电路中磁性元件的两端点并将被测磁性元件并联在所述两端点，之后测量并联被测磁性元件后所述测试电路的输入功率，并联被测磁性元件前后所述测试电路的输入功率之差即为所述被测磁性元件在所述工况下的损耗。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学，未经福州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310144862.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
