[发明专利]一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统无效

专利信息
申请号: 201310151121.1 申请日: 2013-04-26
公开(公告)号: CN103245486A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 陈伟;李超;潘永成 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G05B19/418;G05B19/042
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 曹毅
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,包括服务器,所述服务器通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块,所述工业控制模块通过LVDS低压差分接口连接n个激光器控制系统模块,所述激光器控制系统模块连接散热系统,所述激光器控制系统模块包括电流驱动模块,所述电流驱动模块连接激光器夹具和系统控制及数据采集模块。本发明适用于要求通道数量多、封装类型灵活多样的QCW半导体激光器做寿命测试下的参数监测方法及其设备,可以实现同时对2000台以上不同类型的半导体激光器做老化寿命测试。
搜索关键词: 一种 qcw 半导体激光器 老化 寿命 测试 系统
【主权项】:
一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,其特征在于:包括服务器(1),所述服务器(1)通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块(2),所述工业控制模块(2)通过LVDS低压差分接口连接10‑100个激光器控制系统模块(3),所述激光器控制系统模块(3)连接散热系统(7),所述激光器控制系统模块(3)包括电流驱动模块(4),所述电流驱动模块(4)连接激光器夹具(5)和系统控制及数据采集模块(6)。
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