[发明专利]GaInP/GaAs/InGaAsP/InGaAs四结级联太阳电池的制作方法有效
申请号: | 201310151500.0 | 申请日: | 2013-04-27 |
公开(公告)号: | CN103219414A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 赵勇明;董建荣;李奎龙;孙玉润;曾徐路;于淑珍;赵春雨;杨辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01L31/0725 | 分类号: | H01L31/0725;H01L31/0735;H01L31/0304 |
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地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请公开了一种GaInP/GaAs/InGaAsP/InGaAs四结级联太阳电池的制作方法,其特征在于:采用GaAs作为支撑衬底,在其中一面键合一层InP,通过双面生长技术,分别在GaAs衬底上生长与GaAs晶格匹配的GaInP/GaAs双结电池以及在InP层上生长与InP晶格匹配的InGaAsP/InGaAs双结电池,所述InP的厚度为0.5~10μm。本发明提出的四结太阳电池,不但减少InP衬底的消耗,同时还有效解决了生长单片多结级联太阳电池材料的晶格失配问题。实现高电压、低电流输出的四结级联太阳电池,有利于提高对太阳光能量的利用。 | ||
搜索关键词: | gainp gaas ingaasp ingaas 级联 太阳电池 制作方法 | ||
【主权项】:
一种GaInP/GaAs/InGaAsP/InGaAs四结级联太阳电池的制作方法,其特征在于:采用GaAs作为支撑衬底,在其中一面键合一层InP,通过双面生长技术,分别在GaAs衬底上生长与GaAs 晶格匹配的GaInP/GaAs双结电池以及在InP层上生长与InP晶格匹配的InGaAsP/InGaAs双结电池,所述InP的厚度为0.5~10μm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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