[发明专利]IC测试分类存储装置

摘要

本发明涉及集成电路分装技术领域，公开了一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元、第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元，IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，转盘单元设置在待检料盘存放位的前端，第一IC输送单元位于转盘单元和待检料盘存放位之间，旋转作业单元位于转盘单元的一侧，旋转作业单元包括至少一个转臂，转臂循环能够转动定位至转盘单元上方、IC检测单元上方和第二输送单元上方，依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC，第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。本发明实现能IC的高速测试和高速分类。

主权项

一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元，其特征在于，还包括第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元，所述IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，所述转盘单元设置在所述待检料盘存放位的前端，所述第一IC输送单元位于所述转盘单元和所述待检料盘存放位之间，用于将待检料盘中的IC输送至所述转盘单元，所述旋转作业单元位于所述转盘单元的一侧，所述旋转作业单元包括至少一个转臂，所述转臂循环能够转动定位至所述转盘单元上方、所述IC检测单元上方和所述第二输送单元上方，依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC，所述第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。