[发明专利]一种检测线路结构及其制造方法、显示面板和显示装置有效
| 申请号： | 201310157104.9 | 申请日： | 2013-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN104122682B | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 方业周;任健;王振伟 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 张颖玲,王黎延 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种检测线路结构，包括阵列基板检测区域、电学检测区域、将阵列基板检测区域与电学检测区域相连接的导电区域、集成电路区域以及阵列基板栅驱动区域；其中，所述检测线路结构还包括薄膜晶体管区域；所述电学检测区域通过所述薄膜晶体管区域与阵列基板栅驱动区域连接；所述集成电路区域直接与所述阵列基板栅驱动区域连接。本发明还公开了一种上述检测线路结构的制造方法以及显示面板和显示装置，采用本发明能避免因AT区域、电学检测区域短路而导致的显示屏故障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 线路 结构 及其 制造 方法 显示 面板 显示装置 | ||
【主权项】：
一种检测线路结构，包括阵列基板检测区域、电学检测区域、将阵列基板检测区域与电学检测区域相连接的导电区域、集成电路区域以及阵列基板栅驱动区域，其特征在于，所述检测线路结构还包括薄膜晶体管区域；其中，所述电学检测区域通过所述薄膜晶体管区域与阵列基板栅驱动区域连接；所述集成电路区域直接与所述阵列基板栅驱动区域连接；所述电学检测区域包括用于控制各所述薄膜晶体管导通和截止的薄膜晶体管区域控制区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司，未经北京京东方光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310157104.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种自吸式空气雾化中空轴
- 下一篇：一种合成氨醇洗塔
