[发明专利]等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法有效
| 申请号： | 201310161200.0 | 申请日： | 2013-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN103219209A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 郑理;李涛;王鹏年;雷鸣;段冰;顾尚林;陈小军 | 申请（专利权）人： | 四川虹欧显示器件有限公司 |
| 主分类号： | H01J9/00 | 分类号： | H01J9/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 邓世燕 |
| 地址： | 621000 四川省绵阳市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，通过对参数观测值出现的次数以及对应观测值下屏的等级进行关联，确定与各参数取值关联性最大的屏等级，从而将与屏等级的自信度区间关联性最大的参数取值作为优化的参数取值。本发明的积极效果是：节约通过反复试验设计与验证的方式所耗费时间和资源成本，提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程参数取值的准确性，并且通过调整后的新历史数据积累，进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏品质的制造过程参数取值。同时，在方法模型的使用过程中，不会涉及生产线的中断生产，避免了不必要的停线损失。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子 显示屏 制造 过程 参数 确定 优化 方法 | ||
【主权项】：
一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，其特征在于：包括如下步骤： 步骤一、在待处理数据上对不同的参数取值进行屏产品等级关联，并计算出各参数取值下对应屏产品的不同等级出现的次数； 步骤二、确定与各参数取值关联性最大的屏等级； 步骤三、将与屏等级的自信度区间关联性最大的参数取值作为优化的参数取值。
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