[发明专利]等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法

摘要

本发明公开了一种等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法，通过计算机对输入的数据源及统计指标进行判断，根据工序以及时间对数据源进行划分；按工序以及时间求出最大值、最小值、均值、方差、偏度、峰度，并据此制作数据分布图；对需要进行对比的两个数据集合作分类标注，然后合并两个类别的数据，得到一个具有两种类型标注的数据集合；再在数据集合上进行重要特征抽取等。本发明的积极效果是：能够快速在大量生产数据上进行参数观测值的量化比较，从根本上解决了在面对复杂和海量数据时，理解难，入手慢和处理周期长的问题，能够及时地对生产状态进行有效信息反馈，从而为生产人员快速查找和解决问题提供捷径。

主权项

一种等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一、输入数据源及统计指标；步骤二、计算机对输入的数据源及统计指标进行判断：（1）当数据源为单个数据集时，则进入步骤三；（2）当数据源为两个数据集时，则进入步骤五；步骤三、根据工序以及时间对数据源进行划分；按工序以及时间求出最大值、最小值、均值、方差、偏度、峰度，并据此制作数据分布图；然后继续判断是否具有统计指标：如果否，则返回步骤二；如果是，则进入步骤四；步骤四、将各结果按统计指标进行排序，并将排序所得的前K个属性进行显示和保存；然后返回步骤二；步骤五、对需要进行对比的两个数据集合作分类标注，然后合并两个类别的数据，得到一个具有两种类型标注的数据集合；再在数据集合上进行重要特征抽取；步骤六、根据工序以及时间对数据源进行划分；按工序以及时间在重要参数集合上计算出最大值、最小值、均值、方差、偏度、峰度，并据此制作数据分布图；然后继续判断是否具有统计指标：如果否，则将数据分布图在对照表单中进行显示并保存，然后返回步骤二；如果是，则进入步骤七；步骤七、将各结果按统计指标进行排序，并将排序所得的前K个属性在对照表单中进行显示并保存，然后返回步骤二。