[发明专利]检查半导体封装的印刷电路板的方法有效

专利信息
申请号: 201310164735.3 申请日: 2013-05-07
公开(公告)号: CN103426787A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 郑显权;池升龙;李贞均 申请(专利权)人: 韩美半导体株式会社
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/50
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 韩国仁*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 公开一种检查半导体封装的印刷电路板的方法,可提高拍摄印刷电路板(PCB)安装区域的图案时的精度、可充分确保总的检查时间而不降低每小时产量(UPH)、并可快速检查PCB的安装区域的缺陷。该方法通过接合装置执行,接合装置包括:晶片供给单元;接合台;将多个芯片传送到接合台的接合提取器;及第一可视系统,拍摄PCB的允许上面分别安装芯片的安装区域,该方法包括:制备具有在上面将要分别安装多个芯片的多个安装区域的PCB;通过使用第一可视系统对设置于接合台上的PCB的各个安装区域执行多次图像拍摄,以获得PCB的各个安装区域的多个位置值;和根据多个位置值,确定PCB的各个安装区域的最终位置值。
搜索关键词: 检查 半导体 封装 印刷 电路板 方法
【主权项】:
一种检查半导体封装的印刷电路板(PCB)的方法,所述方法通过接合装置执行,所述接合装置包括:晶片供给单元;接合台;用于将多个芯片传送到所述接合台的接合提取器;以及第一可视系统,所述第一可视系统用于拍摄所述PCB的安装区域,在所述安装区域上允许分别安装所述芯片,所述方法包括:(a)制备具有多个安装区域的PCB,其中在所述多个安装区域上将要分别安装所述多个芯片;(b)通过使用所述第一可视系统对设置于所述接合台上的PCB的各个安装区域执行多次图像拍摄,以获得所述PCB的各个安装区域的多个位置值;和(c)根据所述PCB的各个安装区域的多个位置值,确定所述PCB的各个安装区域的最终位置值。
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