[发明专利]一种制备低反射率金属薄膜的方法无效
申请号: | 201310173072.1 | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN103265181A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 刘江;秦素然;高修涛;石建民;范汉超;王婧烨;赵娜 | 申请(专利权)人: | 北京控制工程研究所 |
主分类号: | C03C17/09 | 分类号: | C03C17/09 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种制备低反射率金属薄膜的方法,特别涉及一种在光学玻璃表面制备低反射率薄膜的方法,适用于航天器用光学零件如码盘、光栅等所采用的低反射率薄膜的制备,属于薄膜制备技术领域。本发明的方法制备的金属薄膜的反射率低≤10%,能够作为制备码盘、柱面镜、光学入射缝板等光学零件的低反射率薄膜;在制备过程中使用了反应气体,使膜层含气,不易氧化,容易刻蚀。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 反射率 金属 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种制备低反射率金属薄膜的方法,其特征在于该方法的步骤为:1)按要求将石英玻璃基片加工成型,然后对石英玻璃基片进行清洗,最后将石英玻璃基片装入真空镀膜机的真空室中;2)在石英玻璃基片上用磁控溅射法制备低反射率薄膜,步骤为:(a)对真空镀膜机的真空室抽真空,并将石英玻璃基片加热至100℃‑130℃;(b)当真空镀膜机的真空室的真空度达到2×10‑3Pa以下时开始进行溅射蒸镀工作,步骤为:(ⅰ)将工作气体和反应气体充入真空镀膜机的真空室中,使真空镀膜机的真空室的压力为6×10‑1~8×10‑1Pa;所述的工作气体为氩气,反应气体为氧气或氮气,工作气体与反应气体的体积比为5‑6:1;(ⅱ)对金属靶进行蒸预溅射;(ⅲ)溅射金属薄膜,将溅射功率控制在300~400W的范围内,溅射速率控制在10~15nm/min的范围内;(ⅳ)金属薄膜厚度达到要求时结束溅射,完成低反射率金属薄膜的制备。
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