[发明专利]敏感器件总剂量效应失效率的测算方法

摘要

本发明涉及一种敏感器件总剂量效应失效率的测算方法，该测算方法包括提供多份待检测的器件样品；对各器件样品分别进行失效剂量检测；将各器件样品的失效剂量输入尺度因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布形状因子数值；预测敏感器件累积的电离辐射总剂量；将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和敏感器件累积的电离辐射总剂量输入失效率计算模块进行计算，并得到总剂量效应失效率。采用本发明的测算方法，有助于进行航天器电子系统的可靠性分析和优化设计的指导，进一步降低航天工程的设计和实施成本。

主权项

一种敏感器件总剂量效应失效率的测算方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、提供多份待检测的器件样品；S2、对各器件样品分别进行失效剂量检测；S3、将各器件样品的失效剂量输入尺度因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；所述尺度因子计算模块内设置有基于以下数学公式建立的数学计算模型：μ=ln(RFAIL-TID)‾=1nΣi=1nln((RFAIL-TID-i))]]>式中：μ为对数正态分布尺度因子；n为器件样品数量；RFAIL‑TID‑i为第i个器件样品的失效剂量；S4、将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布形状因子数值；S5、预测敏感器件累积的电离辐射总剂量；S6、将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和敏感器件累积的电离辐射总剂量输入失效率计算模块进行计算，并得到总剂量效应失效率。