[发明专利]一种面源黑体温度准确度的校准方法及其校准系统有效
| 申请号： | 201310180695.1 | 申请日： | 2013-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN103278264A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 韩顺利;胡为良;罗文健 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 266000 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明适用于温度校正领域，提供了一种面源黑体温度准确度的校准方法，包括：步骤A：在面源黑体设定温度范围内选取M个不同的校准温度点；步骤B：利用计量标准铂电阻温度计在各个校准温度点通过校准孔对面源黑体辐射源进行温度测量，得到真实温度值Ti，并记录对应的面源黑体自身的辐射温度ti；步骤C：将各个校准温度点的面源黑体自身的辐射温度与计量标准铂电阻温度计测量的真实温度值进行线性拟合，计算出校正因子；步骤D：利用校正因子，对面源黑体温度进行校正。所述校准方法的目的是进一步校正铂电阻温度测量系统的非线性误差，在全温度范围内提高整个系统的测量精度，提高面源黑体辐射温度准确度的校准精度，满足高精度测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 黑体 温度 准确度 校准 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种面源黑体温度准确度的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤A：在面源黑体设定温度范围内选取M个不同的校准温度点；步骤B：利用高精度的计量标准铂电阻温度计在所述各个校准温度点通过校准孔对面源黑体辐射源进行温度测量，得到各个校准温度点的真实温度值Ti，同时记录所述各校准温度点对应的面源黑体自身的辐射温度ti；步骤C：将所述各个校准温度点的面源黑体自身的辐射温度与计量标准铂电阻温度计测量的真实温度值进行线性拟合，并计算出校正因子ki，bi；步骤D：利用所述校正因子，对面源黑体温度进行校正。
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