[发明专利]用于测试集成电路的系统和方法在审
| 申请号： | 201310181795.6 | 申请日： | 2013-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN103424686A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | W.巴卡尔斯基;N.伊尔科夫 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/327;G01R1/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;刘春元 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试集成电路的系统和方法。根据实施例，一种测试集成电路的方法包括：经由第一输入引脚接收集成电路上的电源电压；经由该第一输入引脚向布置在集成电路上的电路提供电力；将电源电压与内部生成的电压作比较；基于该比较来生成数字输出值；以及将数字输出值施加到集成电路的引脚。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试集成电路的方法，所述方法包括：经由第一输入引脚接收所述集成电路上的电源电压；经由所述第一输入引脚向布置在所述集成电路上的电路提供电力；将所述电源电压与内部生成的电压作比较；基于所述比较来生成数字输出值；以及将所述数字输出值施加到所述集成电路的引脚。
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