[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 201310190488.4 | 申请日: | 2013-05-22 |
公开(公告)号: | CN103872127A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 一关健太郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种降低导通电阻与输入电容之积的半导体装置。实施方式的半导体装置具备第1半导体层(2)、第2半导体层(8)、第3半导体层(9)、一对第1导电体(7a)、一对第2导电体(7b)、第1布线层(12)以及第2布线层(13)。一对第1以及第2导电体隔着第1以及第2绝缘膜(6a、6b)分别设置于第1以及第2沟槽(3a、3b)内,并与第1半导体层以及第2半导体层相对置。第1布线层具有主体部(12b)和多个凸部(12a)。多个凸部从主体部延伸,经由第1层间绝缘膜(20)的第1开口部(31)而与第1导电体电连接。第2布线层经由第1层间绝缘膜的第2开口部(32)而与第2导电体电连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具备:第1导电类型的第1半导体层;第2导电类型的第2半导体层,选择性地形成于所述第1半导体层的第1表面;第1导电类型的第3半导体层,选择性地形成于所述第2半导体层的表面,并具有比所述第1半导体层高的第1导电类型的杂质浓度;多个第1沟槽,从所述第3半导体层的表面到达至所述第1半导体层,与所述第3半导体层以及所述第2半导体层邻接,并且在与所述第1表面平行的第1方向上延伸,在与所述第1表面平行且与所述第1方向垂直的第2方向上排列;多个第2沟槽,从所述第1表面到达至所述第1半导体层,与所述第2半导体层邻接,并且在所述第1方向上延伸,在所述第2方向上在所述多个第1沟槽之间排列;一对第1导电体,隔着第1绝缘膜设置于所述第1沟槽内;第1场板电极,设置于所述一对第1导电体之间;一对第2导电体,隔着第2绝缘膜设置于所述第2沟槽内;第2场板电极,设置于所述一对第2导电体之间;第1布线层,具有主体部和多个凸部,该主体部隔着第1层间绝缘膜设置于所述多个第1沟槽以及所述多个第2沟槽上且在所述第2方向上延伸,该多个凸部从所述主体部在所述第1方向上延伸且经由所述第1层间绝缘膜的第1开口部而与所述第1导电体电连接;第2布线层,隔着所述第1层间绝缘膜设置于所述第2沟槽上,经由所述第1层间绝缘膜的第2开口部而与所述第2导电体电连接;第1电极,与所述第1半导体层的与所述第1表面相反侧的第2表面电连接;第2电极,与所述第2半导体层、所述第3半导体层、所述第2布线层、所述第1场板电极、以及所述第2场板电极电连接;栅极金属,在所述第1布线层上隔着第2层间绝缘膜设置,经由所述第2层间绝缘膜的第3开口部而与所述第1布线层电连接,并对所述第1布线层提供栅极电位;以及第5半导体层,在所述第1半导体层与所述第1电极之间具有比所述第3半导体层高的第2导电类型的杂质浓度,其中,所述第1导电体以及所述第2导电体沿着所述第1方向延伸,所述第1导电体的端以及所述第2导电体的端分别在所述第1方向上处于所述第1布线层的所述主体部与所述第4半导体层之间,所述第2布线层在所述第1方向上设置于与所述第1布线层的所述多个凸部相比更靠近所述第4半导体层侧的位置,所述第2电极在所述第2布线层、所述第3半导体层、以及所述第4半导体层上隔着所述第2层间绝缘膜设置,与所述第2布线层经由所述第2层间绝缘膜的第4开口部电连接,与所述第3半导体层以及所述第4半导体层经由所述第2层间绝缘膜的第5开口部电连接,所述第1导电体、所述第2导电体、所述第1布线层、以及所述第2布线层通过多晶硅一体地形成,所述第1电极经由所述第5半导体层而与所述第1半导体层电连接。
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