[发明专利]信号生成装置、测定装置、漏电检测装置及信号生成方法有效
申请号: | 201310193204.7 | 申请日: | 2013-05-22 |
公开(公告)号: | CN103454479A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 泽田真克;松下贤也 | 申请(专利权)人: | 德利信电机株式会社 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R19/06 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 徐晓静 |
地址: | 日本东京世田*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供信号生成装置、测定装置、漏电检测装置及信号生成方法,其不进行相位差的矢量计算,同时容易地且短时间地测定并自动地输出输入电流值I、经过相位转换的电流值Icosθ及Isinθ以及稳定的泄漏电流。本发明的实施方式涉及的信号生成装置的特征在于,通过第1及第2比较器对被测定电路的电压波形及电流波形各自生成逻辑信号,并设定参数,同时全波整流电流波形,利用连续型ΔΣADC对经全波整流后的所述电流波形进行量子化转换。 | ||
搜索关键词: | 信号 生成 装置 测定 漏电 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种信号生成装置,其特征在于,包括:第1比较器,其被输入在被测定电路中检测出的电压波形,生成对应于所述电压波形的正负极性的第1逻辑信号;第2比较器,其被输入在所述被测定电路中检测出的电流波形,生成对应于所述电流波形的正负极性的第2逻辑信号;第1运算部,其输出对应于所述第1逻辑信号与所述第2逻辑信号的逻辑异或的第3逻辑信号;相位转换部,其利用过零检测部在所述第1逻辑信号变化时生成过零点,存储所生成的所述过零点间的时间,在距离下一个过零点的时间为已存储的时间的一半以下的期间,通过反转所述第1逻辑信号,进行所述第1逻辑信号的相位转换生成相位转换信号,第2运算部,其输出对应于所述相位转换信号与所述第2逻辑信号的逻辑异或的第4逻辑信号;对检测到的所述电流波形进行全波整流的全波整流部;以及转换部,其输出量子化值,作为基于基准CLK脉冲在规定期间内对连续型ΔΣADC的输出进行计数的计数个数相对于所述规定期间内的基准CLK脉冲的CLK数的比率,该量子化值对应于与采用所述连续型ΔΣADC对通过所述全波整流部全波整流了的所述电流波形进行量子化转换后得到的该电流波形的所述规定期间内的电流波形的平均值;所述第3逻辑信号、所述第4逻辑信号和所述量子化值被输出到测定部,该测定部输出I计数值、Icos计数值和Isin计数值,所述I计数值对应于对在从由所述过零检测部生成的所述下一个过零点开始到更下一个过零点为止的半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流I,所述Icos计数值对应于以基于所述第3逻辑信号的计数方法对在所述半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流Icosθ,所述Isin计数值对应于以基于所述第4逻辑信号的计数方法对在所述半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流Isinθ。
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