[发明专利]正电子发射断层成像的检测器模组及其制造方法有效
申请号: | 201310195401.2 | 申请日: | 2013-05-23 |
公开(公告)号: | CN103837881A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 李洪弟;王伟海;张玉烜 | 申请(专利权)人: | 李洪弟;王伟海;张玉烜 |
主分类号: | G01T1/164 | 分类号: | G01T1/164;G01T1/202 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 美国德克萨斯*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种正电子发射断层成像(PET)的检测器模组及其制造方法。所述PET检测器的模组包括若干个第一矩形截面晶体块,第一五边形截面晶体块和第二五边形截面晶体块。所述若干个第一矩形截面晶体块位于所述第一、第二五边形截面晶体块之间。 | ||
搜索关键词: | 正电子 发射 断层 成像 检测器 模组 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种正电子发射断层成像的检测器模组,其特征在于,包括:多个光传感器;第一闪烁晶体阵列,所述第一闪烁晶体阵列包括多个闪烁晶体,所述晶体与所述光传感器耦合;其中,所述第一闪烁晶体阵列包括第一矩形截面晶体块,第一五边形截面晶体块和第二五边形截面晶体块,且所述第一矩形截面晶体块位于所述第一和第二五边形截面晶体块之间。
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