[发明专利]长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法

摘要

本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法包括以下步骤：寻找电子产品的最薄弱功能模块；设计加速退化试验；数据统计分析；以及确定可靠性模型；所述数据统计分析具体为：通过数据折算将步进加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据；利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹；根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命，将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验，以确定伪失效寿命数据服从的分布函数；确定加速模型。本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法解决了试验样本短缺，试验时间有限的问题，有效提高了电子产品的试验效率，同时缩短了电子产品的可靠性评估时间。

主权项

长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，寻找电子产品的最薄弱功能模块；步骤2，设计加速退化试验；设计包括应力类型、应力水平个数、应力水平的大小和测量时间；步骤3，数据统计分析；步骤3.1，通过数据折算将加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据；步骤3.2，利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹；步骤3.3，根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命，将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验，以确定伪失效寿命数据服从的分布函数；步骤3.4，确定加速模型；根据伪失效寿命数据服从的分布函数，采用相应的评估方法估计各应力条件下伪失效寿命数据服从的分布函数的分布参数，利用应力水平和该应力水平对应的寿命分布函数中的特征寿命值，得到加速模型；步骤4，确定可靠性模型；将正常使用应力水平带入到加速模型中，得到正常应力水平下的寿命特征值，确定可靠性模型，并求出可靠性指标。