[发明专利]射频屏蔽测试室在审

专利信息
申请号: 201310200433.7 申请日: 2013-05-25
公开(公告)号: CN104114005A 公开(公告)日: 2014-10-22
发明(设计)人: 冉嗒库帕日·塔漂;肋巴咖日·约拿 申请(专利权)人: PKC电子有限公司
主分类号: H05K7/16 分类号: H05K7/16;G01R1/18;G01R1/04
代理公司: 上海方本律师事务所 31269 代理人: 汪玉平;余全平
地址: 芬兰拉*** 国省代码: 芬兰;FI
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摘要: 发明涉及射频屏蔽测试室,其包括:测试室框架,其用来界定和围绕所述测试室的腔室空间;和室门,其通过铰链结构连接在所述测试室框架上,并且用来从所述测试室前缘边侧开启和关闭所述测试室。所述室门除包括前壁外,至少在其缘边之一上包括侧面,所述侧面在所述测试室深度方向,作为由所述测试室所包括的侧面的延伸,构成所述测试室的侧面的一部分。位于所述测试室框架和所述室门之间的铰链结构在所述测试室框架侧通过基本水平的连接结构与所述测试室框架连接,所述铰链结构被设置成引导所述室门相对于所述测试室框架上升和从其升举位置下降。
搜索关键词: 射频 屏蔽 测试
【主权项】:
射频屏蔽测试室(10),其包括:测试室框架(10A)(代理人注,应为100),其用来界定和围绕所述测试室的腔室空间(100)(代理人注,应为10A);和室门(300),其通过铰链结构(200)连接到所述测试室框架,并用来从所述测试室前缘边侧开启和关闭所述测试室,其特征在于:所述室门(300)除包括前壁(302)外,至少在其缘边之一上包括侧面(311),所述侧面(311)在所述测试室深度方向,作为由所述测试室(100)所包括的侧面(101)的延伸,构成所述测试室的侧面的一部分;并且,位于所述测试室框架(100)和所述室门(300)之间的铰链结构(200)在所述测试室框架(100)侧通过基本水平的连接结构(201,201a,201b)与所述测试室框架(100)连接,所述铰链结构(200)被设置成引导所述室门(300)相对于所述测试室框架(100)上升和从其升举位置下降。
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