[发明专利]一种位置可精确校准的上下探头检测系统及其校准方法无效
| 申请号： | 201310203739.8 | 申请日： | 2013-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN103728084A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 陈照峰;周万平 | 申请（专利权）人： | 太仓派欧技术咨询服务有限公司 |
| 主分类号： | G01L11/00 | 分类号： | G01L11/00;G01L19/00;G01L27/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215400 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种位置可精确校准的上下探头检测系统及其校准方法，其特征在于下探头可在检测平台上任意移动，上探头可升降且升降过程中精确沿竖直方向，上下探头的接触面设有圆环凹槽的位置可精确校准的上下探头检测系统。通过钢丝绳和上探头的连接结构，上探头本身的重力对被检测样品提供了一个压力，这样在诸如真空绝热板内压的检测时，就会满足使用要求；由于圆管卡槽和上探头限位器的设计，使上探头的运动轨迹固定为竖直方向，方便测量；由于圆环凹槽和校准环块的设计，提供了调整下探头位置的依据，能挣保证上下探头的精确对齐；检测平台限位杆的设计别出心裁，灵活而简单，为多组上下探头的出现打下了基础。该校准方法灵活简便，适用于很多检测设备之中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 位置 精确 校准 上下 探头 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种位置可精确校准的上下探头检测系统，其特征在于下探头可在检测平台上任意移动，上探头可升降且升降过程中精确沿竖直方向，上下探头的接触面设有圆环凹槽的位置可精确校准的上下探头检测系统。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太仓派欧技术咨询服务有限公司，未经太仓派欧技术咨询服务有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310203739.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
