[发明专利]楔形透镜的检测装置和检测方法有效

专利信息
申请号: 201310210297.X 申请日: 2013-05-30
公开(公告)号: CN103308281A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 邵平;居玲洁;沈卫星;赵东峰;王利;周洋 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种楔形透镜的检测装置和检测方法,该楔形透镜检测装置构成包括4D动态干涉仪、补偿镜组、平台、标准反射镜、高精度转台调整架、立方棱镜、自准直平行光管,本发明利用机械与光学相结合的方法来测量,它能够实现高精度测量,并分别得出楔形透镜的楔角差和塔差的值。本发明可广泛应用于楔形透镜的加工和检测,特别是针对高精度的楔形透镜,此方法能够满足各种外形、大小的楔形透镜的检测。
搜索关键词: 楔形 透镜 检测 装置 方法
【主权项】:
一种楔形透镜的检测装置,特征在于其构成包括4D动态干涉仪(1)、补偿镜组(2)、平台、标准反射镜(4)、高精度转台调整架(5)、立方棱镜(6)、自准直平行光管(7),上述元件的位置关系如下:将待测的楔形透镜(3)置于平台上,依次设置的4D动态干涉仪(1)、补偿镜组(2)、待测的楔形透镜(3)和标准反射镜(4)组成同光轴的波前检测光路,高精度转台调整架(5)与立方棱镜(6)放置在待测的楔形透镜(3)和标准反射镜(4)之间,所述的立方棱镜(6)放置在所述的高精度转台调整架(5)上,立方棱镜(6)的四个侧面平行于所述的高精度转台调整架(5)的转轴,所述的高精度转台调整架(5)的转轴垂直于检测光路的光轴,所述的自准直平行光管(7)的光轴同时垂直于检测光路的光轴和所述的高精度转台调整架(5)的转轴。
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