[发明专利]一种测试薄液膜厚度的装置有效
申请号: | 201310215703.1 | 申请日: | 2013-06-03 |
公开(公告)号: | CN103267488A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 董超芳;栗丽;姚纪政;肖葵;吴俊升;雷浩;李晓刚 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01N17/00 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 皋吉甫 |
地址: | 100083 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种可测试薄液膜厚度的装置,该装置可准确、简洁的测量出薄液膜的厚度,并可实时监控液膜厚度的变化,确保可获得薄液膜厚度稳定的实验体系。本发明涉及的原理是激光可透过液体和空气但不能透过固体的原理,将激光发射器和接收器构成回路,并连接电流表。通过激光接收器将接收到的光信号的强弱转变为电流信号。激光先照射到固体试样,电流表示数为0;下移载物台的高度,到电流表有示数时,载物台上螺旋测微器的刻度为L1。保持载物台高度不变,生成液滴,电流表示数再次变为0,下移载物台高度,当电流表再次出现示数时,载物台上螺旋测微器刻度为L2。薄液膜高度为(L2-L1)。本发明的有益效果在于:可实现10μm-999μm薄液膜厚度的测量,可用于测量金属材料在薄液膜下的电化学行为。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 薄液膜 厚度 装置 | ||
【主权项】:
一种测试薄液膜厚度的装置,其特征在于:包括载物台(2)、螺旋测微器(3)、激光发射器(9)、激光接收器(6)、凸透镜(7)、电流表(8)、位移控制台(1)、电源(10)组成,所述的位移控制台(1)上安装有载物台(2)和螺旋测微器(3),其两端分别放置激光发射器(9)和激光接收器(6),两者要完全对应,在激光发射器(9)和试样(4)之间放1‑3个凸透镜(7),激光发射器(9)与电源(10)连接,激光接收器(6)与电流表(8)连接,电源(10)、激光发射器(9)、激光接收器(6)和电流表(8)构成回路,通过激光接收器(6)将接收到的光信号的强弱转变为电流信号,具体实施步骤为:将试样(4)放在载物台(2)上,将载物台调到最高,使激光照射到固体试样(4)上;此时,激光接收器(6)不能接收到激光,电流表示数为0;逐渐降低载物台的高度,直到电流表(8)恰好有示数时,记录此时螺旋测微器的刻度为L1;在载物台(2)上生成一个薄液膜,由于水的折射,此时激光接收器(6)接收不到激光,电流表(8)示数为0;继续降低载物台(2)高度,到电流表(8)刚好有示数时,记录此时螺旋测微器(3)的刻度为L2;薄液膜的厚度=L2‑L1。
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