[发明专利]校准距离测量装置的方法和系统有效
| 申请号： | 201310223768.0 | 申请日： | 2013-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN103472439A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·施图尔姆;沃尔克·弗赖;库尔特·斯坦戴克 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S7/497;G01F23/284 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 关兆辉;谢丽娜 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种校准距离测量装置（2）的方法和系统，其中所述距离测量装置（2）安装在距离测试场所（3）上，其中二维目标（4）可移位地布置在所述距离测试场所（3）上，以反射由所述距离测量装置（2）发射的测量信号，其中借助所述距离测量装置（2）执行所述距离测量装置（2）和所述目标（4）之间的至少一个距离测量，以及其中将由所述距离测量装置（2）测定的距离测量值（dm）与基准值（dref）作比较。本发明的特征在于，包括探测所述目标（4）的倾斜。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 距离 测量 装置 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种校准距离测量装置（2）的方法，其中所述距离测量装置（2）安装在距离测试场所（3）上，其中二维目标（4）被可移位地布置在所述距离测试场所（3）上，以反射由所述距离测量装置（2）发射的测量信号，其中借助所述距离测量装置（2）执行距离测量装置（2）和目标（4）之间的至少一个距离测量，以及其中将由所述距离测量装置（2）测定的距离测量值（dm）与基准值（dref）作比较，其特征在于：探测所述目标（4）的倾斜。
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