[发明专利]单片式清洗设备及其清洗方法有效
申请号: | 201310227185.5 | 申请日: | 2013-06-08 |
公开(公告)号: | CN103325717B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 胡正军;周炜捷 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,林彦之 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明的单片式清洗设备及其清洗方法,包括旋转夹盘,用于固定半导体衬底,并带动半导体衬底进行旋转;位于半导体衬底上的喷嘴,用于将清洗液注入到旋转的半导体衬底上;位于半导体衬底上的含有负压装置的制具,用于将清洗液从旋转的半导体衬底上吸走;时间控制装置,用于控制制具或喷嘴的工作时间,或者控制制具和喷嘴之间进行交替工作;其中,制具不与喷嘴接触,喷嘴位于晶圆上方且对应于制具区域外的区域。清洗时,清洗液通过喷嘴持续注入,制具在一定的负压下,将清洗液吸走和排出,然后停止工作一段时间后,再进行清洗液的吸走和排出,重复循环此过程,最终能够使半导体衬底内的高深宽比结构得到充分清洗。 | ||
搜索关键词: | 单片 清洗 设备 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种单片式清洗设备,其特征在于,包括:旋转夹盘,用于固定半导体衬底,并带动所述半导体衬底进行旋转;位于所述半导体衬底上的喷嘴,用于将清洗液注入到所述的旋转的半导体衬底上;位于所述半导体衬底上的含有负压装置的制具,用于将清洗液从所述的旋转的半导体衬底上吸走;时间控制装置,用于控制制具或喷嘴的开启或闭合,和/或控制制具和喷嘴之间进行交替工作的时间;其中,所述制具不与所述喷嘴接触,所述喷嘴位于所述半导体衬底上方且对应于所述制具区域外的区域,所述喷嘴底部高于所述制具底部所在平面;所述制具的形状为扇形;所述扇形的一端的边缘与所述旋转夹盘的中心对齐或超出,另一端的边缘超出所述半导体衬底的边缘。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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