[发明专利]第III族氮化物半导体发光器件及其制造方法无效
申请号: | 201310228235.1 | 申请日: | 2013-06-08 |
公开(公告)号: | CN103489999A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 水谷浩一;稻泽良平;池本由平;多井中伴之 | 申请(专利权)人: | 丰田合成株式会社 |
主分类号: | H01L33/62 | 分类号: | H01L33/62;H01L33/40 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 顾晋伟;全万志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及第III族氮化物半导体发光器件及其制造方法。具体而言,提供了一种包括覆盖层和接合层的第III族氮化物半导体发光器件,该器件意在抑制驱动电压的增加;还提供了一种用于制造该发光器件的方法。第III族氮化物半导体发光器件包括半导体层、p电极以及在p电极的与半导体层相反的表面上形成的覆盖层。覆盖层通过在p电极上依次堆叠粘合层和第一金属覆盖层而形成。粘合层由具有-500kJ/摩尔至-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能的材料形成。第一金属覆盖层具有高于-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能。 | ||
搜索关键词: | iii 氮化物 半导体 发光 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种第III族氮化物半导体发光器件,包括:第III族氮化物半导体层;与所述半导体层接触的p电极;覆盖所述p电极的主表面的至少一部分的覆盖层;和覆盖所述覆盖层的主表面的至少一部分的接合层,其中所述覆盖层包括由具有高于‑100kJ/摩尔的氧化物形成自由能的金属形成的第一金属覆盖层。
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