[发明专利]微结构力学性能片外弯曲测试装置有效
申请号: | 201310233219.1 | 申请日: | 2013-06-13 |
公开(公告)号: | CN103293065A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 刘彬;陶俊勇;王晓晶;张云安;陈循;蒋瑜;易晓山 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G01N3/20 | 分类号: | G01N3/20;G01N3/38 |
代理公司: | 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 | 代理人: | 刘熙 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样夹持部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;三维移动平台设在隔振底座的一侧,抗振固定块设在隔振底座的另一侧,试样夹持部分设在抗振固定块上,驱动部分设在三维移动平台上,载荷检测部分与驱动部分连接并与试样夹持部分对应,位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,放大观测部分设在隔振底座上对准试样夹持部分。本发明具有结构简单,制作成本低,夹持和对中简单,使微尺度下的弯曲力学性能测试更加高效、可靠。 | ||
搜索关键词: | 微结构 力学性能 弯曲 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,其特征是包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样夹持部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;所述三维移动平台设在隔振底座的一侧,所述抗振固定块设在隔振底座的另一侧,所述试样夹持部分设在抗振固定块上,所述驱动部分设在三维移动平台上,所述载荷检测部分与驱动部分连接并与试样夹持部分对应,所述位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,所述放大观测部分设在隔振底座上对准试样夹持部分。
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