[发明专利]微结构力学性能片外弯曲测试装置有效

专利信息
申请号: 201310233219.1 申请日: 2013-06-13
公开(公告)号: CN103293065A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 刘彬;陶俊勇;王晓晶;张云安;陈循;蒋瑜;易晓山 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/38
代理公司: 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 代理人: 刘熙
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样夹持部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;三维移动平台设在隔振底座的一侧,抗振固定块设在隔振底座的另一侧,试样夹持部分设在抗振固定块上,驱动部分设在三维移动平台上,载荷检测部分与驱动部分连接并与试样夹持部分对应,位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,放大观测部分设在隔振底座上对准试样夹持部分。本发明具有结构简单,制作成本低,夹持和对中简单,使微尺度下的弯曲力学性能测试更加高效、可靠。
搜索关键词: 微结构 力学性能 弯曲 测试 装置
【主权项】:
一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,其特征是包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样夹持部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;所述三维移动平台设在隔振底座的一侧,所述抗振固定块设在隔振底座的另一侧,所述试样夹持部分设在抗振固定块上,所述驱动部分设在三维移动平台上,所述载荷检测部分与驱动部分连接并与试样夹持部分对应,所述位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,所述放大观测部分设在隔振底座上对准试样夹持部分。
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