[发明专利]用于陷波滤波的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201310233422.9 申请日: 2013-06-13
公开(公告)号: CN103490746A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: F·阿玛德 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: H03H11/34 分类号: H03H11/34
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 申发振
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供了一种用于陷波滤波的装置和方法。在特定实施方式中,一种放大器包括:放大级,其用于提供信号放大;斩波器电路,其用于通过以斩波频率对与放大级相关的放大信号进行斩波而生成斩波信号;和时间交错的有限脉冲响应(FIR)陷波滤波器,其用于对接近斩波频率的斩波信号的频率分量进行陷波。时间交错的FIR陷波滤波器包括多个FIR滤波器,其被配置来以约等于斩波频率的两倍的采样速率对斩波信号进行采样。FIR滤波器是时间交错的以减小采样误差。此外,时间交错的FIR陷波滤波器包括无限脉冲响应(IIR)滤波器,其被配置来对由FIR滤波器的各个采得的样本求平均并对平均样本求积分以生成时间交错的FIR陷波滤波器的输出信号。
搜索关键词: 用于 陷波 滤波 装置 方法
【主权项】:
一种放大器,其包括:多个放大级,其被配置来放大差分输入电压信号以生成输出信号;斩波器块,其被配置来以斩波频率对与所述多个放大级相关的放大的差分信号进行斩波以生成斩波信号;和陷波滤波器,其被配置来以所述斩波频率使所述斩波信号衰减以生成陷波信号,其中所述陷波滤波器包括:第一有限脉冲响应(FIR)滤波器,其被配置来对所述斩波信号进行采样以生成第一多个样本作为输出;第二FIR滤波器,其被配置来对所述斩波信号进行采样以生成第二多个样本作为输出,其中所述第一多个样本的至少部分相对于所述第二多个样本是时间交错的;和无限脉冲响应(IIR)滤波器,其被配置来至少部分地通过对所述第一FIR滤波器的所述输出和所述第二FIR滤波器的所述输出求积分而生成所述陷波信号。
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