[发明专利]一种耐离子迁移性能优劣的评价方法在审
| 申请号： | 201310234191.3 | 申请日： | 2013-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN103323505A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 叶锦荣;林振生;李远 | 申请（专利权）人： | 广东生益科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/26 | 分类号： | G01N27/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种耐离子迁移性能优劣的评价方法，所述方法采用HAST测试，并调节HAST测试温度低于待测试材料Tg15～20℃，其余测试条件保持不变，进行耐离子迁移性能的测试。所述HAST评价方法能够快速、准确、有效地测试普通Tg材料，尤其是普通FR-4材料和普通CEM-3材料的耐离子迁移性能的优劣，解决了传统的CAF测试方法和HAST测试方法对于普通Tg材料测试存在的耗时长和精度不高的问题，从而为研究改善普通Tg材料的耐CAF性能提供了准确有效的检测依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 迁移 性能 优劣 评价 方法 | ||
【主权项】：
一种耐离子迁移性能优劣的评价方法，其特征在于，所述方法通过采用HAST测试，并调节HAST测试温度低于待测试材料Tg15～20℃来实现。
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