[发明专利]放射线检测装置及其制造方法和成像系统有效
| 申请号： | 201310237615.1 | 申请日： | 2013-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN103515404B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 石田阳平;冈田聪;长野和美;猿田尚志郎;野村庆一 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;H01L27/146;G01T1/202 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 杨小明 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及放射线检测装置及其制造方法和成像系统。一种放射线检测装置，包括传感器面板，所述传感器面板包括检测放射线并且排列的多个传感器单元，所述多个传感器单元中的各传感器单元包括像素阵列、闪烁体层和第一闪烁体保护层，所述像素阵列包括检测光并且二维布置的多个像素，所述闪烁体层将放射线转换为光，所述第一闪烁体保护层被设置为覆盖所述闪烁体层，并且所述放射线检测装置还包括被设置为覆盖所述多个传感器单元的第二闪烁体保护层。 | ||
| 搜索关键词： | 放射线 检测 装置 及其 制造 方法 成像 系统 | ||
【主权项】：
一种包括传感器面板的放射线检测装置，在所述传感器面板中，排列了检测放射线的多个传感器单元，所述多个传感器单元中的各传感器单元包括：包含像素阵列的基板、设置在所述基板的像素阵列上的闪烁体层、以及第一闪烁体保护层，在所述像素阵列中，二维布置检测光的多个像素，所述闪烁体层将放射线转换为光，所述第一闪烁体保护层被设置为覆盖所述闪烁体层，其中所述闪烁体层被所述基板与所述第一闪烁体保护层两者包围，所述第一闪烁体保护层是所述多个传感器单元的多个第一闪烁体保护层之中的一个，并且所述放射线检测装置还包括被设置为覆盖所述多个传感器单元的第二闪烁体保护层。
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