[发明专利]一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法有效
| 申请号： | 201310237669.8 | 申请日： | 2013-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN103344252A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 赵慧洁;李娜;姜宇 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法，其步骤如下：（1）高光谱图像信息、姿态位置测量系统数据读入；（2）根据几何成像物理关系建立共线条件方程；（3）分析姿态位置测量系统测角误差、全球定位系统定位误差和成像光谱仪标定误差，对每个误差源进行建模；（4）利用步骤（3）得到的误差源分析模型，对步骤（2）所建立的共线条件方程进行一阶泰勒展开，建立误差传递方程；（5）计算步骤（4）所建立的误差传递方程的外方位元素误差传递矩阵；（6）基于协方差传播律，建立由步骤（4）和步骤（5）确定的姿态位置参数协方差矩阵；（7）根据步骤（6）建立的协方差矩阵计算定位误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 航空 光谱 成像 系统 定位 误差 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法，其特征在于：它包含以下步骤： （1）高光谱图像信息、姿态位置测量系统数据读入； （2）根据几何成像物理关系建立共线条件方程； （3）分析姿态位置测量系统测角误差、全球定位系统定位误差和成像光谱仪标定误差，对每个误差源进行建模； （4）利用步骤（3）得到的误差源分析模型，对步骤（2）所建立的共线条件方程进行一阶泰勒展开，建立误差传递方程； （5）计算步骤（4）所建立的误差传递方程的外方位元素误差传递矩阵； （6）基于协方差传播律，建立由步骤（4）和步骤（5）确定的姿态位置参数协方差矩阵； （7）根据步骤（6）建立的协方差矩阵计算定位误差。
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