[发明专利]一种三态内容可寻址存储器的测试电路及其方法

摘要

一种三态内容可寻址存储器的测试电路及其方法，包括扫描链、向量生成电路、TCAM阵列模块、优先级编码器、测试结果分析电路和修复电路，扫描链将测试图形输入到优先级编码器输入端，向量生成电路提供各种测试图形给TCAM阵列和优先级编码器，测试结果分析电路通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和故障定位，修复电路则根据测试结果分析电路得出的故障定位信息来修复失效的单元，本发明还公开了利用上述测试电路来修复可寻址存储器的方法,通过插入向量生成电路，扫描链，分析优先级比较器的输出信号，先后完成优先级比较器测试，搜索不匹配测试和搜索匹配测试，并能对失效单元进行定位，完成电路的修复。

主权项

一种三态内容可寻址存储器的测试方法，其特征在于：包括一测试电路，该测试电路主要包括扫描链、向量生成电路、TCAM阵列模块、优先级编码器、测试结果分析电路和修复电路，其中：扫描链将测试图形输入到优先级编码器输入端；向量生成电路提供各种测试图形给TCAM阵列和优先级编码器；测试结果分析电路通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和故障定位；修复电路则根据测试结果分析电路得出的故障定位信息来修复失效的单元；其方法包括如下步骤：步骤一：利用扫描链电路完成优先级编码器的测试：向量生成电路生成各种测试激励，由SI通过扫描链串行输入，并施加到优先级编码器的输入端，测试结果分析电路通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和故障定位；步骤二：在确保优先级编码器没有失效后，完成搜索不匹配时的测试和修复：利用向量生成电路生成各种测试激励，作为搜索数据施加到TCAM芯片，该数据与TCAM内部存储的数据都不匹配，通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和修复工作；步骤三：完成搜索匹配时的测试和修复：利用向量生成电路生成各种测试激励，作为搜索数据施加到TCAM芯片，该数据与TCAM内部存储的数据匹配，通过分析优先级编码器是否有错误的输出来完成测试和修复工作。