[发明专利]一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法

摘要

本发明涉及一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，属于无损检测技术领域。该方法包括取校验样件，切除对应深孔中部位置，形成贯穿深孔且轴向截面为规则几何形状的缺口；加工出截面与缺口相配且具有与深孔切除部分相配圆弧凹槽的镶块；将磁粉检测灵敏度试片粘贴在镶块的圆弧凹槽中部，再将镶块嵌在深孔环形件的缺口处固定，使圆弧凹槽恰好弥补深孔切除部分；对固定好镶块的深孔环形件进行喷淋磁化，再将镶块取下，通过试片的显示，判断深孔环形件的内壁磁粉检测系统灵敏度是否满足要求。本发明以简单合理的方法妥善解决了深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度的校验问题，使磁粉检测技术可以更加广泛地应用于该类工件的内壁检测。

主权项

一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于包括以下步骤： 第一步、取待检深孔环形件之一作为校验样件，在对应深孔环形件中部的位置进行切割，形成穿透环形件的缺口，并获得与所述缺口相配的镶块；第二步、通过所述缺口将磁粉检测灵敏度试片粘贴在适宜观察试片磁粉表面状态的环形件内壁处，再将镶块嵌在深孔环形件的缺口处固定；第三步、对固定好镶块的深孔环形件进行喷淋磁化，再将镶块取下，通过观察环形件内壁的磁粉检测灵敏度试片显示，判定深孔环形件内壁的磁粉检测系统灵敏度是否满足要求。