[发明专利]一种基于非接触式传感器组合的孔径测量方法有效
申请号: | 201310244720.8 | 申请日: | 2013-06-19 |
公开(公告)号: | CN103278100A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 李兴强;王仲;刘新波;郑镕浩 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01B11/12 | 分类号: | G01B11/12 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 温国林 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于非接触式传感器组合的孔径测量方法,适用于工件内径尺寸的测量,涉及几何量测量领域,所述方法包括:首先将双传感器测头的主轴安装在具有平动功能的机构上,形成一套完整的测量系统,并置于被测工件内;测量时,要求双传感器测头上的两个传感器的测量光轴在一条直线上;双传感器测头先在ZOY面旋转、后在XOY面平移,获取被测工件的内孔直径;或双传感器测头先后在ZOY面、XOY面旋转,获取被测工件的内孔直径。应用本方案测量工件内孔直径时,理论上只需两步操作,极大地提高了测量效率,节省大量测量工时;并且将非接触测头安装在机床上,利用机床自身的运动执行机构使测头旋转或平移,可实现在机精密测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 接触 传感器 组合 孔径 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于非接触式传感器组合的孔径测量方法,其特征在于,所述方法包括:首先将双传感器测头的主轴安装在具有平动功能的机构上,形成一套完整的测量系统,并置于被测工件内;测量时,要求双传感器测头上的两个传感器的测量光轴在一条直线上;双传感器测头先在ZOY面旋转、后在XOY面平移,获取被测工件的内孔直径。
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