[发明专利]LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法有效

专利信息
申请号: 201310246505.1 申请日: 2013-06-20
公开(公告)号: CN103293461A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 姜振超;舒勤;顾益双;黄宏光;杨书佺 申请(专利权)人: 四川电力科学研究院;四川大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01K11/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 梁田
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公布了LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法,包括(A)实施光模块变温实验,测量并得到工作电流与温度的关系曲线,并拟合成数学函数;(B)得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程;(C)将步骤(A)得到的数学函数带入步骤(B)给出的方程,得到最佳测试温度和相应的测试时间。本发明最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间,测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间。
搜索关键词: led 加速 老化试验 最佳 测试 温度 确定 方法
【主权项】:
LED加速寿命试验最佳测试温度的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:(A)实施光模块变温实验,测量并得到工作电流与温度的关系曲线,并拟合成数学函数;(B)得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程;(C)将步骤(A)得到的数学函数带入步骤(B)给出的方程,得到最佳测试温度和相应的测试时间。
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