[发明专利]温度检测范围确定装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310247416.9 申请日: 2013-06-20
公开(公告)号: CN103512662A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 细居智树;本田光弘 申请(专利权)人: 阿自倍尔株式会社
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 肖华
地址: 日本东京都千代田*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的温度检测范围确定装置及方法对于相邻的热电堆阵列传感器,容易确定检测范围的一部分重复。检测温度取得部(12)从各热电堆阵列传感器(AS)取得检测温度,温度变化对照部(13)对于相互的预定检测范围部分重复的两个热电堆阵列传感器,在从该重复区域内选择的每个检查位置与各对照位置之间,对在各个位置检测的检测温度的时间序列变化进行对照,来确定最佳对照位置,系数推算部(14)对每个检查位置生成表示最佳对照位置与位置偏差系数的关系的方程式,通过使这些方程式联立用最小二乘法进行求解,来推算这些位置偏差系数,检测范围确定部(15)通过根据这些位置偏差系数对预定检测范围的位置坐标进行校正来确定实际的检测范围。
搜索关键词: 温度 检测 范围 确定 装置 方法
【主权项】:
一种温度检测范围确定装置,其特征在于,包括:存储部,其对于成为温度分布的检测对象的空间中所设置的多个热电堆阵列传感器的每一个,存储该热电堆阵列传感器应检测温度的预定检测范围的位置坐标;检测温度取得部,其从所述各热电堆阵列传感器取得检测温度;温度变化对照部,其对于所述各热电堆阵列传感器当中的、相互的预定检测范围部分重复的两个热电堆阵列传感器,在从该重复区域内选择的一方的热电堆阵列传感器侧的每个检查位置和从另一方的热电堆阵列传感器的预定检测范围内选择的另一方的热电堆阵列传感器侧的各对照位置之间,对在各个位置检测到的所述检测温度的时间序列变化进行对照,来确定得到了最高的对照结果的最佳对照位置;系数推算部,其对每个所述检查位置生成表示有关该检查位置的所述最佳对照位置和位置偏差系数的关系的方程式,所述位置偏差系数示出表示该检查位置的位置坐标与表示该最佳对照位置的位置坐标之间的位置偏差,通过使这些方程式联立用最小二乘法进行求解,来推算这些位置偏差系数;以及检测范围确定部,其通过根据所述位置偏差系数对所述另一方的热电堆阵列传感器的所述预定检测范围的位置坐标进行校正,来对所述另一方的热电堆阵列传感器的实际检测范围进行确定。
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