[发明专利]核磁共振波谱仪上克服对流效应的梯度匀场方法有效

专利信息
申请号: 201310249827.1 申请日: 2013-06-21
公开(公告)号: CN103344928A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 刘光曹;陈忠;蔡淑惠 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01R33/38 分类号: G01R33/38;G01R33/44
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 核磁共振波谱仪上克服对流效应的梯度匀场方法,涉及核磁共振波谱仪。提供可克服样品内部对流效应的核磁共振波谱仪上克服对流效应的梯度匀场方法。1)事先制备好匀场线圈的场图;2)使用频率编码方向包含补偿对流的梯度模块的脉冲序列,或使用梯度匀场的脉冲序列但是减少样品内部温度差;3)再用脉冲序列进行两次成像采样,获得采样数据,经数据处理,拟合计算出要调节的匀场线圈的电流变化量,设入硬件;4)进行匀场迭代收敛条件判断,若尚未收敛,则重复步骤3)和4)。通过在脉冲序列的频率编码方向使用包含补偿对流的梯度模块,或是在梯度匀场时调节温控气流尽可能减小被测样品内部的温度差,来补偿或减少对流效应对梯度匀场的影响。
搜索关键词: 核磁共振 波谱 克服 对流 效应 梯度 方法
【主权项】:
核磁共振波谱仪上克服对流效应的梯度匀场方法,其特征在于包括以下步骤:1)事先制备好匀场线圈的场图;2)使用频率编码方向包含补偿对流的梯度模块的脉冲序列,或者使用梯度匀场的脉冲序列但是减少样品内部温度差;3)再用脉冲序列进行两次成像采样,获得采样数据,经数据处理,拟合计算出要调节的匀场线圈的电流变化量,设入硬件;4)然后进行匀场迭代收敛条件判断,若尚未收敛,则重复步骤3)和4)。
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