[发明专利]用于单端光学测试仪器的阵列连接器测试线束在审

专利信息
申请号: 201310251091.1 申请日: 2013-05-08
公开(公告)号: CN104052543A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: C·施拉布;H·卡斯勒;J·D·谢尔 申请(专利权)人: 弗兰克公司
主分类号: H04B10/077 分类号: H04B10/077;H04B10/071
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 董均华;杨炯
地址: 美国华*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于测试光纤系统的系统,装置和方法,提供近端和远端线束从而将光纤系统中的光纤组环接在一起。近端线束具有连接到测试器的接口。然后测试器实现整个光纤组上的测试,通过两条线束产生一个横穿网络内整个光纤组或光纤子组的单个光学路径的配置环接在一起,这样发射测试信号在整个环接光纤组内传播,提供光纤的测量结果。
搜索关键词: 用于 光学 测试 仪器 阵列 连接器
【主权项】:
一种用于光学网络测试的阵列连接器线束系统,包括:近端线束,用于在待测光纤的第一端连接到待测光纤;以及远端线束,用于在待测光纤的第二端连接到待测光纤,其中,所述近端和远端线束协作连接所述待测光纤,从而形成端到端的单个光学路径。
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