[发明专利]铸锭过程中减少硅锭内部晶体的位错的方法无效

专利信息
申请号: 201310253143.9 申请日: 2013-06-24
公开(公告)号: CN103305924A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 潘家明 申请(专利权)人: 英利集团有限公司
主分类号: C30B33/02 分类号: C30B33/02;C30B29/06
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;张永明
地址: 071051 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明提供了一种铸锭过程中减少硅锭内部晶体的位错的方法。该铸锭过程中减少硅锭内部晶体的位错的方法包括退火工艺,该退火工艺包括以下步骤:步骤S1:使硅锭的顶部降温,且使硅锭的底部的温度保持不变;步骤S2:使硅锭的顶部和硅锭的底部同时降温;步骤S4:将硅锭的热应力释放。根据本发明的方法,在进行退火工艺的过程中,硅锭的温度是不断降低的,不会出现硅锭温度上升的情况,进而防止硅锭温度升高而造成硅锭内部晶体的位错。
搜索关键词: 铸锭 过程 减少 内部 晶体 方法
【主权项】:
一种铸锭过程中减少硅锭内部晶体的位错的方法,其特征在于,包括退火工艺,该退火工艺包括以下步骤:步骤S1:使硅锭的顶部降温,且使所述硅锭的底部的温度保持不变;步骤S2:使所述硅锭的顶部和所述硅锭的底部同时降温;步骤S4:将所述硅锭的热应力释放。
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