[发明专利]基于光学相干层析技术实时检测聚变堆第一壁损伤的方法有效

专利信息
申请号: 201310258078.9 申请日: 2013-06-25
公开(公告)号: CN103344646A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 王平;汪卫华;杨锦宏;麻晓敏;祁俊力;张强华;储德林;邓海飞 申请(专利权)人: 中国人民解放军陆军军官学院
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G21B1/25
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉;卢纪
地址: 230031 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种基于光学相干层析技术实时检测聚变堆第一壁损伤的方法。所述的检测系统由宽带光源、光纤耦合器、自聚焦透镜、探测器、放大器、数据采集及被检测的第一壁等组成。宽带激光经2×2光纤耦合器分为两束,一束光照射到参考镜,经反射,作为参考光。另一束光照射到聚变堆第一壁,经第一壁反射,作为信号光。这两束光在光纤耦合器中产生干涉信号,探测器接收干涉信号,经放大,计算机处理,就能重建出第一壁损伤的实时三维深度图像。将得到的图像与标准图像相比较,直观方便得到第一壁损伤的情况。本发明基于光学相干层析技术,分辨率高,图像清晰,为聚变堆第一壁表面及内部损伤提供了一种可行的检测方法。
搜索关键词: 基于 光学 相干 层析 技术 实时 检测 聚变 第一 损伤 方法
【主权项】:
一种基于光学相干层析技术实时检测聚变堆第一壁损伤的方法,其特征包含以下步骤:S1:选择近红外波段宽带低相干光源;S2:选择光纤耦合器,要求选择与光源相匹配的光纤耦合器;S3:光源发出的宽带低相干光经过光纤耦合器后分成两束,其中一束经过参考臂的扫描系统反射形成参考光,另一束经过物镜聚焦到托克马克第一壁,其背向散射光作为信号光;S4:信号光与参考光在光纤耦合器处重新汇合;S5:参考臂用来产生光程差及差频信号,出射光经过准直后垂直射入平面镜后返回,参考臂步进电机的来回扫描产生光程变换,用以匹配样品臂的光程。当参考臂和样品臂的光程差小于相干长度时,便会产生干涉信号;S6:测量从第一壁反射回来的光延迟,纵向移动参考镜,使参考光与信号光产生干涉,记录参考镜的空间位置,便可得到第一壁及其内部相对应的空间位置信息;S7:耦合器的输出是参考光与背向散射光的相干迭加,由光电探测器探测,将光信号转换成电信号,再经过前置放大、带通滤波等过程来增强信号,削弱噪声,然后由AD采样将模拟信号转换成数字信号存储在计算机中,最后由实现信号处理与图像显示;S8:得到第一壁深度方向的一维测量数据,再进行扫描,就能够测量样品的二维数据,对信号进行处理,便获取样品的三维层析图像;S9:将获取的三维层析图像与第一壁标准样品的样本图像进行匹配,据此判断第一壁损伤状况,实现第一壁损伤的实时在线检测。
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