[发明专利]光耦合器测试系统有效
| 申请号： | 201310258388.0 | 申请日： | 2013-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN103516424B | 公开（公告）日： | 2017-08-15 |
| 发明（设计）人： | E·陈;D·G·科辛兹;T·K·特若;B-H·H·庞 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07;G02B6/42 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 赵蓉民,张全信 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的题目是“光耦合器测试系统”。测试光耦合器的方法和装置。光耦合器的输入连接至光信号源的输出端。光耦合器的输出连接至光信号探测器系统的输入端。使用由控制器控制的转换系统测量通过光耦合器的输入和输出的组合发送的光信号以形成光信号的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合器 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种光耦合器测试系统(212)，包括：光信号源(214)，其配置为产生光信号(222)；光信号探测器系统(216)，其配置为探测所述光信号(222)；转换系统(218)，其配置为将所述光信号(222)从所述光信号源(214)引导至光耦合器(202)中的输入(208)和将所述光信号(222)从所述光耦合器(202)的输出(210)引导至所述光信号探测器系统(216)；和控制器(220)，其配置为自动控制所述转换系统(218)，以选择所述光耦合器(202)中的输入(208)用于传输所述光信号(222)进入所述光耦合器(202)，选择所述光耦合器(202)中的所述输出(210)用于测量自所述光耦合器(202)输出的光信号(222)，和测量来自所选择的所述输出(210)的光信号(222)，以形成测量(233)，其中所述转换系统(218)配置为引导电流至与所述光耦合器(202)中所述输出(210)中所选择的输出相连的发光二极管(300)，所述所选择的输出连接至所述光耦合器(202)中所述输入(208)的所选择的输入，其中所述发光二极管(300)传输所述光信号(222)至所述光耦合器(202)中所述输入(208)的所选择的输入并且所述光信号探测器系统(216)接收来自所述光耦合器(202)中所述输出(210)的所述光信号(222)。
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