[发明专利]光刻返工后残留光刻胶的去除方法在审
申请号: | 201310258513.8 | 申请日: | 2013-06-25 |
公开(公告)号: | CN104252103A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 沈佳 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | G03F7/42 | 分类号: | G03F7/42;H01L21/3065 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种光刻返工后残留光刻胶的去除方法,包括下列步骤:使用氢氟酸溶液浸泡残留有光刻胶的晶圆;使用SPM溶液对所述残留有光刻胶的晶圆进行清洗;使用APM对所述残留有光刻胶的晶圆进行清洗。本发明能够去除返工后仍然残留在晶圆上的光刻胶(通常已发生碳化),因此能够降低生产成本、提高生产原料利用率,避免造成浪费。 | ||
搜索关键词: | 光刻 返工 残留 去除 方法 | ||
【主权项】:
一种光刻返工后残留光刻胶的去除方法,包括下列步骤:使用氢氟酸溶液浸泡残留有光刻胶的晶圆;使用第一溶液对所述残留有光刻胶的晶圆进行清洗;使用第二溶液对所述残留有光刻胶的晶圆进行清洗;所述第一溶液是硫酸和双氧水的混合溶液、所述第二溶液是氨水和双氧水的混合溶液,或所述第二溶液是硫酸和双氧水的混合溶液、所述第一溶液是氨水和双氧水的混合溶液。
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