[发明专利]一种控制沉淀法铁红杂晶产生的方法有效
| 申请号： | 201310278668.8 | 申请日： | 2013-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN103342391A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 尤亮;菅盘铭;屈庆文;杨建明 | 申请（专利权）人： | 南通宝聚颜料有限公司 |
| 主分类号： | C01G49/06 | 分类号： | C01G49/06;G01N21/35 |
| 代理公司： | 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙) 11316 | 代理人： | 滑春生 |
| 地址： | 226500 江苏省南通*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种控制沉淀法铁红杂晶产生的方法，包括以下步骤：1)氧化剂快速氧化加有分散剂的氢氧化亚铁沉淀制备铁红晶种；2)将铁红晶种干燥，压片，扫描，处理得到红外光谱图；3)根据铁的羟基氧化物的IR吸收光谱特征峰，得到铁红晶种特征峰和杂质特征峰位置，根据杂质峰的强弱判断铁红晶种样品的品质；4)按红外分析结果，进行晶种的二步氧化，对氧化产物铁红进行红外检测，得到铁红的红外谱图，根据杂质峰的强弱判断铁红的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 控制 沉淀 法铁红杂晶 产生 方法 | ||
【主权项】：
一种控制沉淀法铁红杂晶产生的方法，其特征在于：包括如下步骤：(1) 氧化剂快速氧化加有分散剂的氢氧化亚铁沉淀制备铁红晶种；(2) 将铁红晶种干燥，压片，扫描，处理得到红外光谱图；(3) 根据铁的羟基氧化物的IR吸收光谱特征峰，得到铁红晶种特征峰和杂质特征峰位置，根据杂质峰的强弱判断铁红晶种样品的品质；(4) 按红外分析结果，进行晶种的二步氧化，对氧化产物铁红进行红外检测，得到铁红的红外谱图，根据杂质峰的强弱判断铁红的品质。
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