[发明专利]基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法有效
| 申请号： | 201310279152.5 | 申请日： | 2013-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN103475369A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 黄成;李佑辉 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 范晴 |
| 地址： | 215123 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法。本测试方法通过选取分辨率高于待测ADC3比特以上的ADC作为初次测试对象，任意选取一种合适的高精度ADC测试算法对采集的初测ADC的输出码进行处理，并求取初测ADC的传输函数和信号源的非线性表达式，然后识别和校正信号源非线性表达式的非线性部分后基于给定的激励非线性表达式测试待测的具有较低分辨率的待测ADC。该方法避免了传统直方图和相关高精度ADC测试方法中需要重复采样和信号源表达式估计等问题。此外，由于降低了所需的测试时间和硬件成本，本方法在高精度ADC测试领域具有更好的可行性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 信号源 误差 一次性 校准 识别 高精度 adc 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法，本测试方法中利用低精度信号源对高精度ADC进行可靠性测试，其特征在于，本测试方法采用高于待测ADC分辨率的初测ADC作为初次测试对象，并对该作为初次测试对象的初测ADC的输出码进行处理并求取初测ADC的传输函数和信号源的非线性表达式，然后识别和校正信号源非线性表达式的非线性部分后基于给定的信号源非线性表达式测试具有较低分辨率的待测ADC。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学，未经东南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310279152.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
