[发明专利]成膜方法无效
申请号: | 201310279224.6 | 申请日: | 2013-07-04 |
公开(公告)号: | CN103526180A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 加藤寿;熊谷武司;田村辰也;菊地宏之 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;C23C16/40;C23C16/52;H01L21/31 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种成膜方法。在该成膜方法中,向形成有凹部的基板供给含硅气体并使含硅气体吸附于该基板,用氧化气体氧化所吸附的含硅气体,从而在基板上形成氧化硅膜。即使将基板加热至比含硅气体可分解的温度高的温度的情况下,也能利用自用于将含硅气体供给部和氧化气体供给部分开的分离区域供给的非活性气体将被供给含硅气体的基板的上方气氛的气相温度维持得较低,因此含硅气体能够不在气相中分解,而吸附于基板。 | ||
搜索关键词: | 方法 | ||
【主权项】:
一种成膜方法,其为将基板交替暴露于含硅气体和氧化气体中而在该基板上形成氧化硅膜的方法,其中,该成膜方法包括:将形成有凹部的基板载置在以能够旋转的方式设置在真空容器内的旋转台上的工序;将上述旋转台加热到第2温度的工序,该第2温度高于作为能使上述含硅气体在气相中分解的温度的第1温度;自非活性气体供给部经由狭小空间而至少向上述真空容器内的第1空间供给上述非活性气体,从而抑制上述第1空间的气相温度的上升,抑制上述含硅气体的在气相中分解的工序,上述非活性气体供给部配置于顶面形成部内,用于向第2顶面与上述旋转台之间的上述狭小空间供给非活性气体,该顶面形成部设于上述真空容器内的第1空间和沿上述旋转台的周向同该第1空间分开的第2空间之间,用于提供比上述第1空间的第1顶面以及上述第2空间的第1顶面低的上述第2顶面;自设在上述第1空间的用于向上述旋转台供给上述含硅气体的第1气体供给部向载置在上述旋转台上的上述基板供给上述含硅气体的工序;自设在上述第2空间的用于向上述旋转台供给用于氧化上述含硅气体的氧化气体的第2气体供给部向载置在上述旋转台的上述基板供给上述氧化气体的工序;等离子体生成工序,利用设在上述第2气体供给部和位于上述旋转台的旋转方向下游侧的上述顶面形成部之间的等离子体产生部在该等离子体产生部与上述旋转台之间生成等离子体;利用上述旋转台的旋转,将载置在该旋转台的上述基板暴露于上述含硅气体、上述氧化气体以及上述等离子体,而在上述基板上形成氧化硅膜的工序;以及,加热工序,对成膜有上述氧化硅膜的上述基板进行加热。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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