[发明专利]热界面均匀性检测系统及方法有效
| 申请号： | 201310284547.4 | 申请日： | 2013-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN103364101A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 刘刚;唐晓军;赵鸿;王超;刘洋;刘磊;王钢 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
| 主分类号： | G01K11/30 | 分类号： | G01K11/30;G01N21/17 |
| 代理公司： | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人： | 张蕾 |
| 地址： | 100015*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种热界面均匀性检测系统及方法，该系统包括：光源、光学检测设备、设置在所述光源和所述光学检测设备之间的光学介质，和光学介质以及待检测热界面相连接的高温均温器和低温均温器，为高温均温器和低温均温器提供加热和制冷的对应高温源和低温源；本发明通过在光源和光学检测设备之间设置一个光学介质，利用光学介质对温度的敏感特性来反映光学介质内的温度场均匀性，进一步反映和光学介质相连接的待检测热界面的均匀性，从而提供了一种热界面均匀性的检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 界面 均匀 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种热界面均匀性检测系统，其特征在于，包括：光源、光学检测设备、设置在所述光源和所述光学检测设备之间的光学介质；所述光学介质的一侧设有高温源，另一侧设有低温源；通过所述高温源和所述低温源作用，使所述光学介质内产生预定温度梯度的温度场，所述光学检测设备对经该温度场传播来的光进行检测确定所述待检测热界面是否均匀。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十一研究所，未经中国电子科技集团公司第十一研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310284547.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于借助激光装置焊接的方法
- 下一篇：禽偏肺病毒抗体ELISA检测试剂盒
