[发明专利]一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板有效

专利信息
申请号: 201310288811.1 申请日: 2013-07-10
公开(公告)号: CN103345080A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 吕启标 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1362;G02F1/1368;G09G3/00;G09G3/36
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 潘中毅;熊贤卿
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种快速测试切换装置,设置于一TFT-LCD阵列基板上,用于切换对所述TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号,至少包括:第一切换TFT,其栅极连接一控制芯片及一测试块,用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号,其源极连接一数据测试线或栅极测试线,其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。本发明实施例还公开了一种相应的TFT-LCD阵列基板。实施本发明,有利于液晶面板窄边化,且可以提高TFT-LCD阵列基板的良率。
搜索关键词: 一种 快速 测试 切换 装置 相应 tft lcd 阵列
【主权项】:
一种TFT‑LCD阵列基板,包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域,所述显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线,其特征在于,所述外围区域内设置有:多条数据测试线,分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号;多条栅线测试线,分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号;公共电极线,用于向显示区中各TFT单元提供公共电极;其中,在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置,所述快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下,控制所述数据测试线及栅线测试线与所述显示区的导通或切断。
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