[发明专利]非易失性存储器件和存储器系统及管理、擦除和编程方法有效

专利信息
申请号: 201310291074.0 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN103544993B 公开(公告)日: 2018-06-19
发明(设计)人: 吴银珠;金钟河;孔骏镇 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C16/10 分类号: G11C16/10;G11C16/14
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邵亚丽
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种非易失性存储器件的擦除方法包括设置擦除模式,以及根据设置的擦除模式执行正常擦除操作和快速擦除操作之一。正常擦除操作被执行以便将存储单元的阈值电压设置为低于第一擦除验证电平的擦除状态。快速擦除操作被执行以便将存储单元的阈值电压设置为低于第二擦除验证电平的伪擦除状态。第二擦除验证电平高于第一擦除验证电平。 1
搜索关键词: 擦除 擦除操作 验证 非易失性存储器件 擦除模式 擦除状态 存储单元 阈值电压 存储器系统 编程 管理
【主权项】:
1.一种存储器系统的块管理方法,该存储器系统包括具有多个存储块的至少一个非易失性存储器件和控制所述至少一个非易失性存储器件的存储器控制器,该方法包括:在存储块上执行M比特编程操作,M是自然数;当在M比特编程操作之后需要对存储块的擦除操作时,执行快速擦除操作以便将存储块中的存储单元的阈值电压设置为伪擦除状态;使用伪擦除状态执行存储块的N比特编程操作,N是正整数;当在N比特编程操作之后需要对存储块的擦除操作时,执行正常擦除操作以便将存储块中的存储单元的阈值电压设置为擦除状态;以及当在N比特编程操作之后需要对存储块的擦除操作时,确定是否重复快速擦除操作;其中,擦除状态低于第一擦除验证电平,伪擦除状态低于第二擦除验证电平,而且第二擦除验证电平高于第一擦除验证电平,其中,根据存储块的正常擦除操作、编程操作或者读取操作的成功率来确定是否重复所述快速擦除操作,并且其中,当正常擦除操作的成功率超过参考值时,执行所述快速擦除操作。
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