[发明专利]离子源系统和离子束流系统有效
申请号: | 201310297942.6 | 申请日: | 2013-07-16 |
公开(公告)号: | CN104299871A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 洪俊华;陈炯 | 申请(专利权)人: | 上海凯世通半导体有限公司 |
主分类号: | H01J37/08 | 分类号: | H01J37/08;H01J37/302 |
代理公司: | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人: | 朱水平;王聪 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种离子源系统和离子束流系统。所述离子源系统包括一离子源反应腔,其特征在于,所述离子源系统还包括一引出电极组,所述引出电极组的引出狭缝与所述离子源反应腔的狭缝开口对应,所述引出电极组调节所述引出狭缝处的等离子体弯月面,所述等离子体弯月面在所述引出狭缝的狭缝方向上聚焦离子束流和/或在所述引出狭缝的狭缝方向的垂直方向上发散离子束流。本发明通过特有的离子源扩展方式,能够在相匹配的束流传输系统结构下,避开了加大束流强度的瓶颈,从而可成倍地增大离子束在工件上的流强,提高注入离子束的带状分布均匀性,减少带状离子束的束流调整时间和束流强度损耗。 | ||
搜索关键词: | 离子源 系统 离子束 | ||
【主权项】:
一种离子源系统,包括一离子源反应腔,其特征在于,所述离子源系统还包括一引出电极组,所述引出电极组的引出狭缝与所述离子源反应腔的狭缝开口对应,所述引出电极组调节所述引出狭缝处的等离子体弯月面,从而在所述引出狭缝的狭缝方向上聚焦离子束流和/或在所述引出狭缝的狭缝方向的垂直方向上发散离子束流。
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