[发明专利]具有参数的半导体存储器件和半导体系统及其测试方法有效
| 申请号： | 201310300302.6 | 申请日： | 2013-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN103886912B | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 秋新镐 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 李少丹;周晓雨 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 半导体存储器件可以通过对内部产生的控制信号的相位与内部产生的时钟信号的相位进行比较的测试来有效地评估。具体地，如果经由所述测试内部数据选通信号IDQS的相位与内部时钟信号ICLK的相位同步，则数据选通信号DQS也可以与外部时钟信号CLK同步。因此，所述测试可以防止例如AC参数tDQSCK的某些重要参数在PVT（工艺、电压和温度变化）上超出可允许的范围。所述测试有助于保证半导体存储器件在读取模式下正确地操作。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体存储器件 测试 内部数据选通信号 内部时钟信号 数据选通信号 外部时钟信号 半导体系统 读取模式 控制信号 时钟信号 相位同步 重要参数 有效地 评估 保证 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器件，包括：延迟控制器，所述延迟控制器配置成：响应于第一测试模式信号、第二测试模式信号、以及第三测试模式信号和读取命令信号来比较内部数据选通信号的相位与内部时钟信号的相位，以产生延迟控制信号；时钟延迟单元，所述时钟延迟单元配置成：根据所述延迟控制信号将所述内部时钟信号延迟第一延迟时间，以及产生用于产生数据选通信号的延迟时钟信号；以及数据选通信号发生器，所述数据选通信号发生器配置成响应于所述延迟时钟信号来产生用于数据选通的所述数据选通信号。
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