[发明专利]一种工作在软X射线波段的并联平场光栅及其设计方法有效
申请号: | 201310307159.3 | 申请日: | 2013-07-20 |
公开(公告)号: | CN103454706A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 刘正坤;王庆博;陈火耀;邱克强;付绍军 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18;G02B27/44;G01J3/18;G01J3/28 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;李新华 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种工作在软X射线波段的并联平场光栅及其设计方法,将两种不同的平场光栅G1和G2做在同一基底上,形成一个整体的并联平场光栅。该光栅工作在掠入射条件下,适用于软X射线波段。根据凹面光栅的像差理论,优化G1和G2的工作参数(入射距离、入射角度、成像位置),使其完全相同,因此二者可以同时工作。并联平场光栅的工作波段是二者之和,可以有效的扩展光栅的工作波段。并联平场光栅解决了平场光栅工作波段较窄的问题,为同时测量软X射线较宽光谱提供了一种有效技术。 | ||
搜索关键词: | 一种 工作 射线 波段 并联 光栅 及其 设计 方法 | ||
【主权项】:
一种工作在软X射线波段的并联平场光栅的设计方法,其特征在于,对G1和G2两组线密度不同的光栅,通过曝光—刻蚀—再爆光—再刻蚀的方法将两组光栅做在同一基底上形成并联平场光栅,其中光栅的基底面为球面;该并联平场光栅要求两组光栅具有相同的入射距离、入射角度、成像位置和球面基底半径,以便实现两组光栅同时工作,实现波段的扩展,采用遗传算法对光栅的入射距离、入射角度和成像位置这些工作参数,以及光栅的基底半径、中心线密度和光栅的线密度变化系数这些光栅参数进行优化,确定各项参数,并联平场光栅在保证波段扩展的前提下,与现有的平场光栅具有相当的分辨特性。
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