[发明专利]一种准光相位修正面设计方法有效

专利信息
申请号: 201310307874.7 申请日: 2013-07-22
公开(公告)号: CN103412983A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 赵青;刘建卫 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 梁田
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种准光相位修正面设计方法,包括对准光相位修正面的X向微扰的设计方法,其特征在于,所述微扰,其中为反向高斯波束电场Y向分量在相位修正面处的相位,为前向波束电场Y向分量在相位修正面处的相位;为波数,α为前向波束入射角;上述为通过矢量绕射理论计算出的前向波束电场Y向分量相位,是高斯波束的函数,即=,U为高斯波束。采用本发明所述的准光相位修正面设计方法,即采用矢量绕射理论设计相位反射面,不同于标量绕射理论的方法,比标量绕射理论设计的相位反射面更加准确。
搜索关键词: 一种 相位 修正 设计 方法
【主权项】:
1.一种准光相位修正面设计方法,包括对准光相位修正面的X向微扰的设计方法,其特征在于,所述微扰,其中为反向高斯波束电场Y向分量在相位修正面处的相位,为前向波束电场Y向分量在相位修正面处的相位;为波数,α为前向波束入射角;如权利要求1所述一种准光相位修正面设计方法,其特征在于,=,其中对反向波束U的选取采用矢量分解方法,将U视为三维直角坐标系内的矢量,对U的取值只取U在Y向的分量。
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