[发明专利]高掺杂ZnO:Co磁性半导体薄膜材料及其制备方法有效
申请号: | 201310308681.3 | 申请日: | 2013-07-22 |
公开(公告)号: | CN103400679A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 刘国磊;曹强;颜世申;梅良模;陈延学 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | H01F1/40 | 分类号: | H01F1/40;H01F10/193;H01F41/14;H01L43/10;H01L43/12;C23C14/32;C23C14/08 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 杨磊 |
地址: | 250100 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种高掺杂ZnO:Co磁性半导体薄膜材料及其制备方法,所述高掺杂ZnO:Co磁性半导体薄膜材料结构式为Zn1-xCoxO,x=0.2~0.45。本发明采用在低温、超低氧气压条件下的氧分子束外延制备方法,得到具有单晶单相的纤维锌矿晶格结构的Zn1-xCoxO磁性半导体材料,最大Co金属固溶度达到45%。本发明制备的Zn1-xCoxO磁性半导体具备超强的室温铁磁性,最大饱和磁化强度530emu/cm3,最大平均原子磁矩1.68μB/Co、巨大的室温磁光克尔效应。制备的Zn1-xCoxO磁性半导体材料可用于自旋电子学器件。 | ||
搜索关键词: | 掺杂 zno co 磁性 半导体 薄膜 材料 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
高掺杂ZnO:Co磁性半导体薄膜材料,分子式为Zn1‑xCoxO,x为掺杂成份的原子比,x=0.2~0.45。
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